久久婷婷人人澡人人喊人人爽_国产免费又色又爽又黄的视频软件_成人伊人亚洲人综合网_情侣网站免费作爱

中文EN
可靠性試驗

矽普產(chǎn)品進(jìn)行可靠性試驗的目的是找到產(chǎn)品的薄弱點，了解、驗證、評價、分析和提高產(chǎn)品的可靠性。不同級別的芯片會面臨不同的應(yīng)用環(huán)境，級別越高應(yīng)用環(huán)境越復(fù)雜，對應(yīng)可靠性要求也會更高、更嚴(yán)格。我們的所有產(chǎn)品都經(jīng)過嚴(yán)格的出廠測試，保障交付給客戶的產(chǎn)品均為良品，但為探究產(chǎn)品在經(jīng)受長期時間損耗的影響，還需要進(jìn)一步的可靠性測試，模擬實際使用中的一些嚴(yán)苛使用條件對產(chǎn)品的沖擊，以評估芯片的壽命及可能存在的風(fēng)險，改進(jìn)并提升產(chǎn)品性能。

試驗項目

不同等級的產(chǎn)品有相應(yīng)不同的要求，對其進(jìn)行的可靠性試驗的目的是為證明其自身滿足對該分類的標(biāo)準(zhǔn)?？煽啃栽囼灥脑囼烅椖渴且罁?jù)不同級別的產(chǎn)品具體的應(yīng)用環(huán)境來設(shè)計，模擬產(chǎn)品在正常使用中的環(huán)境因素，驗證其功能一致性和耐久性。


要求
Requirement等級
Rank		消費級
Consumption grade		工業(yè)級
Industrial grade		車規(guī)級
Automotive grade
應(yīng)用手機、PC等工業(yè)控制汽車電子
溫度0~70℃-40~85℃-40~150℃
濕度中根據(jù)環(huán)境0~100%
振動/沖擊中較高高
壽命1~3年5-10年15年
可靠性中較高高
出錯率<3%<1%0
消費級
試驗類別
Category		試驗項目
Test Contents		試驗條件
Condition		試驗時間
Time		樣品數(shù)量
S.S		判定標(biāo)準(zhǔn)
Acc/Re		參考標(biāo)準(zhǔn)
Reference
環(huán)境試驗HTS
(高溫存儲)		Ta=150℃1000hrs77Pcs0/1JESD22-A103
LTS
(低溫存儲)		Ta=-55℃1000hrs77Pcs0/1JESD22-A103
TC
(溫度循環(huán))		Ta: -65℃ to 150℃
（Ta: -55℃ to 150℃）		500cycles
(1000cycles)		77Pcs0/1JESD22-A104
PCT
(壓力蒸煮試驗)		Ta=121℃，RH=100%, 1atm96hrs77Pcs0/1JESD22-A102
HAST
（高加速應(yīng)力試驗）		Ta=130℃，85%RH
Vds=80%VdsMax（Max=42V)		96hrs77Pcs0/1JESD22-A110
uHAST
（無偏高加速應(yīng)力試驗）		Ta=130℃，85%RH96hrs77Pcs0/1JESD22-A110
H3TRB
(高溫高濕反偏)		Ta=85℃，85%RH
Vds=80%VdsMax（Max=100V)		1000hrs77Pcs0/1JESD22-A101
Precondition
(預(yù)處理 For SMD only)		Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles
Step2: Bake: 125℃ ，24hrs
Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs
Step4: IR: 260℃ ，3cycles		NA77Pcs0/1JESD22A-113
工業(yè)級
試驗類別
Category		試驗項目
Test Contents		試驗條件
Condition		試驗時間
Time		樣品數(shù)量
S.S		判定標(biāo)準(zhǔn)
Acc/Re		參考標(biāo)準(zhǔn)
Reference
壽命試驗HTGB
(高溫柵極偏置)		Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax1000hrs77Pcs0/1JESD22-A108
HTRB
(高溫反向偏壓)		Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax1000hrs77Pcs0/1JESD22-A108
環(huán)境試驗HTS
(高溫存儲)		Ta=150℃1000hrs77Pcs0/1JESD22-A103
LTS
(低溫存儲)		Ta=-55℃1000hrs77Pcs0/1JESD22-A103
TC
(溫度循環(huán))		Ta: -65℃ to 150℃
（Ta: -55℃ to 150℃）		500cycles
(1000cycles)		77Pcs0/1JESD22-A104
PCT
(壓力蒸煮試驗)		Ta=121℃，RH=100%, 1atm96hrs77Pcs0/1JESD22-A102
HAST
（高加速應(yīng)力試驗）		Ta=130℃，85%RH
Vds=80%VdsMax（Max=42V)		96hrs77Pcs0/1JESD22-A110
uHAST
（無偏高加速應(yīng)力試驗）		Ta=130℃，85%RH96hrs77Pcs0/1JESD22-A110
H3TRB
(高溫高濕反偏)		Ta=85℃，85%RH
Vds=80%VdsMax（Max=100V)		1000hrs77Pcs0/1JESD22-A101
Precondition
(預(yù)處理 For SMD only)		Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles
Step2: Bake: 125℃ ，24hrs
Step3: MSL: 30℃/60%RH ，192hrs
Step4: IR: 260℃ ，3cycles		NA77Pcs0/1JESD22A-113
車規(guī)級
試驗類別
Category		試驗項目
Test Contents		試驗條件
Condition		試驗時間
Time		樣品數(shù)量
S.S		判定標(biāo)準(zhǔn)
Acc/Re		參考標(biāo)準(zhǔn)
Reference
壽命試驗HTGB
(高溫柵極偏置)		Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax1000hrs77Pcs0/1JESD22-A108
HTRB
(高溫反向偏壓)		Ta=150℃，Vgs=100%VgsMax1000hrs77Pcs0/1JESD22-A108
環(huán)境試驗HTS
(高溫存儲)		Ta=150℃1000hrs77Pcs0/1JESD22-A103
LTS
(低溫存儲)		Ta=-55℃1000hrs77Pcs0/1JESD22-A103
TC
(溫度循環(huán))		Ta: -65℃ to 150℃
（Ta: -55℃ to 150℃）		500cycles
(1000cycles)		77Pcs0/1JESD22-A104
PCT
(壓力蒸煮試驗)		Ta=121℃，RH=100%, 1atm96hrs77Pcs0/1JESD22-A102
HAST
（高加速應(yīng)力試驗）		Ta=130℃，85%RH
Vds=80%VdsMax（Max=42V)		96hrs77Pcs0/1JESD22-A110
uHAST
（無偏高加速應(yīng)力試驗）		Ta=130℃，85%RH96hrs77Pcs0/1JESD22-A110
H3TRB
(高溫高濕反偏)		Ta=85℃，85%RH
Vds=80%VdsMax（Max=100V)		1000hrs77Pcs0/1JESD22-A101
Precondition
(預(yù)處理 For SMD only)		Step1: TC: -65℃~150℃ 15min 5cycles
Step2: Bake: 125℃ ，24hrs
Step3: MSL: 85℃/85%RH ，168hrs
Step4: IR: 260℃ ，3cycles		NA77Pcs0/1JESD22A-113